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GR-M 微位移探头光栅尺

±5mm 微位移测量,分辨率 0.1μm,用于量具、精密测量仪与在线检测工位。

GR-M 光栅尺

GR-M 微位移探头光栅尺

±5mm 微位移测量,分辨率 0.1μm,用于量具、精密测量仪与在线检测工位。

  • 测量行程±5 mm
  • 分辨率0.1 μm
  • 重复精度≤ 0.5 μm
  • 输出信号TTL / 1 Vpp
  • 出厂逐支标定,附检验合格证
  • 标准品 18 个月质保
  • 支持样机测试与批量定制

技术参数

测量行程±5 mm
分辨率0.1 μm
重复精度≤ 0.5 μm
输出信号TTL / 1 Vpp
测力范围0.4 ~ 1.2 N(可定制)
工作温度+10 ~ +40 ℃
防护等级IP50
典型应用量具 / 在线检测

产品详情

GR-M 采用小型化读数头与带状光栅,配合精密导向机构构成微位移探头,分辨率 0.1μm,重复精度优于 0.5μm,可直接替代电感测微仪用于自动化检测工位。

读数头输出 TTL 或 1Vpp 正弦信号,配合细分盒可输出至 PLC 或数据采集卡;探头测力可定制,避免划伤工件表面。

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